Por: Vicente Flores

Equipado con tecnología de punta, el nuevo Laboratorio de Microscopía Electrónica del Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica (INAOE) dará servicio a proyectos de investigación en el análisis de nanomateriales y en la fabricación de dispositivos semiconductores.

Con sus dos microscopios electrónicos de barrido, dicho Laboratorio, el cual fue inaugurado la tarde de ayer en el marco de una sencilla ceremonia, se erige como una instalación única en la región sur-sureste de nuestro país, ya que brindará servicio a investigadores y estudiantes no sólo del INAOE, sino también de otras instituciones de la zona.

Los microscopios de barrido electrónico son utilizados para varias aplicaciones. En el caso particular del INAOE, se emplearán para analizar nanomateriales y dispositivos basados en estos. Al hacer uso de haces de electrones, este tipo de microscopios tiene resoluciones muy altas que están en el orden de los nanómetros.

El microscopio electrónico de barrido, el cual se adquirió por medio de la convocatoria de proyectos de infraestructura 2015 del Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología para el nuevo laboratorio, es marca FEI modelo SCIOS, y sirve para analizar dispositivos y nanomateriales a una resolución menor a un nanómetro, es decir, con gran detalle.

Asimismo, el microscopio cuenta con dos columnas (DUAL BEAM): una de electrones y otra de iones. Esta segunda permite hacer cortes en las muestras para poder observar no solamente la superficie, sino también transversalmente las capas que las integran, y permite hacer nanofabricación, es decir, se pueden hacer dispositivos nanométricos.

También cuenta con un sistema de limpieza in situ: una vez que se inserta la muestra en el microscopio ésta se puede limpiar por medio de plasma, lo que ayuda a remover polvo e impurezas de tipo biológico y mejora el proceso.

Gracias al haz de iones, el equipo puede hacer láminas muy delgadas que se conocen como lamelas, y mediante un nanomanipulador el usuario puede moverlas para observarlas transversalmente a una resolución de 0.8 nanómetros.

Adicionalmente está dotado de un sistema de análisis químico de espectroscopia de dispersión de electrones (EDS por sus siglas en inglés) que permite analizar la composición química de las muestras.